| 題名 | 無方向性電磁鋼板の温度変化が磁歪特性に及ぼす影響 |
| 著者 | *芦田 強, 笹山 瑛由, 中野 正典, 谷本 親哉, 高橋 則雄 (岡山大) |
| Page | p. 112 |
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| 題名 | ソース-ドレインの正･逆接続によるランダムテレグラフノイズの変化 |
| 著者 | *藤本 敏充, 土屋 敏章 (島根大) |
| Page | p. 113 |
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| 題名 | ゲートバイアスストレスによって発生するMOS界面トラップのバイアス電圧およびストレス時間依存性 |
| 著者 | *濱野 竜朗, 土屋 敏章 (島根大) |
| Page | p. 114 |
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| 題名 | ホットキャリアによるナノスケールpMOSトランジスタの特性劣化 |
| 著者 | *北川 謙輔, 土屋 敏章 (島根大) |
| Page | p. 115 |
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| 題名 | GaSbAs多結晶膜の結晶性と電気的特性の膜厚依存性 |
| 著者 | *松井 良記, 梶川 靖友 (島根大) |
| Page | pp. 116 - 117 |
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